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    SD2000系列晶振測試系統

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    由微機、射頻開關和高分辨率計數器組成自動測試系統。.可用于晶振老化測試和溫度測試,自動完成老化漂移、穩定度、準確度、日波動等參數的測量 。自動記錄儲存測試數據,自動形成測試曲線 。
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    主要特點

     

    由微機、射頻開關和高分辨率計數器組成自動測試系統 

     

    可用于晶振老化測試和溫度測試,自動完成老化漂移、穩定度、準確度、日波動等參數的測量

    通過射頻開關的組合,可組成64-N路測試矩陣

    自動記錄儲存測試數據,自動形成測試曲線

    主要技術指標 

    頻率范圍:DC~100MHz

    隔離度:120dB(5MHz); 90dB (100MHz) 




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    由微機、射頻開關和高分辨率計數器組成自動測試系統 

     

    可用于晶振老化測試和溫度測試,自動完成老化漂移、穩定度、準確度、日波動等參數的測量

    通過射頻開關的組合,可組成64-N路測試矩陣

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    主要技術指標 

    頻率范圍:DC~100MHz

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